物理探査・検層

　物理探査・検層は，測定した物理量をもとに地盤性状を明らかとする調査技術です。
　必要な情報を得るためには，調査目的や現場状況を的確に判断し，調査方法を選定する必要があります。

＜地盤調査に用いられる主な物理探査・物理検層＞

調査名称	主な目的	対象地盤	得られる情報
【物理探査（主に地表面からの測定）】
弾性波探査	・地質構造・自然斜面・切土斜面の安定性・土硬軟・リッパビリティ等	・軟弱地盤から岩盤まで全ての地盤を対象	地盤のＰ波速度構造
電気探査（非抵抗法）	・地質構造・帯水層の分布	・軟弱地盤から岩盤まで全ての地盤を対象	地盤の非抵抗値の相対分布
地下レーダー探査	・表層地質構造・地下空洞・埋設物確認	・一般的な土質を対象（ただし，地下水以深は検出不可）	反射面のパターン
表面波探査（レーリー波）	・表層地質構造・地盤特性・地盤強度や支持力	・一般的な土質を対象	レイリー波の速度構造
【物理検層（ボーリング孔を利用して測定）】
速度検層（ＰＳ検層）	・地質構造・地盤の硬軟	・軟弱地盤から岩盤まで全ての地盤を対象	Ｐ波，及びＳ波の速度分布
磁気探査	・金属埋設物調査・地下構造部形状	・一般的な土質を対象	磁気異常波形
密度検層	・地盤の硬軟	・軟弱地盤から岩盤まで全ての地盤を対象	地盤の密度の相対分布